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第三代
半导体测试家族
Third generation semiconductor testing family
分类
联动科技成功参展SEMICON CHINA 2019


2019年3月20日至22日，Semicon China 2019在上海新国际展览中心顺利举行。

我公司展示了目前在半导体IC测试系统、分立器件测试系统和激光打标系统的最新产品。包括：完全国内自主研发的超大规模IC测试系统QT-9000/7200，混合信号IC测试系统QT-8100，分立器件综合测试平台QT-4100和高速测试系统QT-6000，和全自动IC打标检测系统等先进设备。



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