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第三代
半导体测试家族
Third generation semiconductor testing family
分类
Prober

适用于6、8″Si、SiC分立器件、功率器件、集成电路、射频器件、光芯片等晶圆的自动探针测试。 自动上下片，Wafer ID读取。 全自动CCD视觉对针定位。 高精度定位平台。 支持常高温测试。 实时生成Mapping显示Bin。 通用GPIB、TTL、R-232接口。



悬浮电源

多Site并行

多通道高精度

支持多种扩展

型号 Prober
产品介绍 适用于6、8″Si、SiC分立器件、功率器件、集成电路、射频器件、光芯片等晶圆的自动探针测试。 自动上下片，Wafer ID读取。
功能 ? 全自动CCD视觉对针定位。
? 高精度定位平台。
? 支持常高温测试。
? 实时生成Mapping显示Bin。
? 通用GPIB、TTL、R-232接口。


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