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第三代
半导体测试家族
Third generation semiconductor testing family
分类
联动科技成功参展SEMICON CHINA 2018


2018年3月14日至16日，Semicon China 2018在上海新国际展览中心顺利举行。

我公司展示了目前在半导体IC集成电路测试系统、Discrete测试系统和激光打标系统的最新产品。包括：国内自主研发首台超大规模集成电路测试系统QT-9000，数位模拟混合信号IC测试系统QT-8200/8100，分立器件测试系统QT-6000和QT-4100测试平台，全自动IC打印检测系统QH-APV5090等先进设备。



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