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第三代
半导体测试家族
Third generation semiconductor testing family
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分类
 
QT-3107 LCR RG/CG 測試

自研LCR數位電橋,支援Mosfet RG/CG測試,也可以用於測試二極體的電容測試,解析度1fF



支援雙DIE

精度高抗干擾

測試速度快

擴展2KV偏置

型号 QT-3107
产品优势 采用数字电桥,抗干扰能力强,测试精度高;
测试时间比模拟电桥快2-3倍;
偏置电压最高2KV;
主要特点 测试分辨率1fF;
自带±100V偏置源;
测试频率:1MHz,扩展2MHz;
输出幅度:0.025-2V;




Testing standards检测标准
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